NV Электроника будущего станет более надежной. Американские ученые нашли способ обнаруживать скрытые дефекты в сверхтонких материалах
Американские исследователи из Университета Райса сделали весомый шаг в развитии сверхтонкой электроники, разработав уникальную методику обнаружения скрытых структурных изъянов.