Collector
จีนจี้สหรัฐฯ สอบปม "นักวิจัยชิป" พลัดตกตึกเสียชีวิต หลังถูก FBI สอบสวนอย่างหนัก | Collector
จีนจี้สหรัฐฯ สอบปม
Thairath_News

จีนจี้สหรัฐฯ สอบปม "นักวิจัยชิป" พลัดตกตึกเสียชีวิต หลังถูก FBI สอบสวนอย่างหนัก

ทางการจีนเรียกร้องสหรัฐฯ สอบสวนหาสาเหตุการเสียชีวิตของนักวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ชาวจีนในมหาวิทยาลัยมิชิแกน หลังพบเสียชีวิตไม่นานหลังถูกเจ้าหน้าที่สหรัฐฯ เรียกตัวไปสอบสวนในลักษณะ "คุกคาม"

Go to News Site