Collector
พาชม AMD Chai Chee Lab โรงงานตรวจคุณภาพชิป ด่านสุดท้ายของชิป AMD MI355X | Collector
พาชม AMD Chai Chee Lab โรงงานตรวจคุณภาพชิป ด่านสุดท้ายของชิป AMD MI355X
Blognone

พาชม AMD Chai Chee Lab โรงงานตรวจคุณภาพชิป ด่านสุดท้ายของชิป AMD MI355X

พาชม AMD Chai Chee Lab โรงงานตรวจคุณภาพชิป ด่านสุดท้ายของชิป AMD MI355X Body ชิป AMD MI355X เป็นชิปสำหรับเซิร์ฟเวอร์รุ่นล่าสุดที่เดินสายการผลิตส่งมอบให้กับลูกค้าอยู่ในตอนนี้ แม้ข้อมูลที่เราเห็นมักระบุว่าชิปตัวนี้ใช้เทคโนโลยีการผลิต N3P ของ TSMC แต่ในห่วงโซ่อุปทานของชิประดับสูงเช่นนี้ในความเป็นจริงเป็นการประสานงานของโรงงานจำนวนมากทั่วโลก ในงาน AMD Instinct & ROCm Workshop 2026 ที่ผ่านมา ทาง AMD ก็พาสื่อเข้าชมโรงงาน AMD Chai Chee ที่เป็นโรงงานทดสอบและควบคุมคุณภาพชิปหลายรุ่น หนึ่งในนั้นคือชิป AMD MI355X ที่ได้รับความนิยมสูงในตอนนี้ ชิป MI355X เป็นแบบหลายชิ้นประกอบกันรวมทรานซิสเตอร์ถึง 185,000 ล้านตัว ชิปหลักใช้เทคโนโลยีการผลิต N3P ประกอบด้วย chiplet สำหรับประมวลผลจำนวน 8 ชิ้น เชื่อมกันด้วยแผ่นเวเฟอร์ CoWoS-S ความเร็วสูง การผลิตที่ซับซ้อนเช่นนี้ทำให้มีความเป็นไปได้ที่จะมีจุดผิดพลาดในจุดต่างๆ และโรงงาน AMD Chai Chee เป็นจุดตรวจสุดท้ายก่อนจะส่งมอบ รวมถึงการวิเคราะห์หลังจากพบชิปที่ทำงานผิดพลาดเพื่อหาสาเหตุที่แท้จริงและปรับปรุงการผลิตให้อัตราการผิดพลาดต่ำลงตลอดอายุการผลิตสินค้า กระบวนการทดสอบที่ AMD เปิดให้เข้าชมการทดสอบชิปอัตโนมัติ การจำลองอายุการใช้งานของชิปเพื่อยืนยันว่าชิปทำงานได้ตามอายุที่วางไว้จริง และการตรวจสอบเมื่อชิปทำงานผิดพลาด แสดงให้เห็นถึงความซับซ้อนของการทดสอบและวิเคราะห์อุปกรณ์ที่มีความซับซ้อนสูงเช่นชิปขนาดใหญ่ Automated Test Equipment คล้ายการทดสอบซอฟต์แวร์แต่แยกส่วนไม่ได้ Automated Test Equipment (ATE) เป็นการตรวจสอบชิปหลังประกอบสำเร็จแล้วครั้งแรก โดยไม่ได้รันซอฟต์แวร์จริง แต่อาศัยคำสั่งดีบั๊กต่างๆ ในชิป สำหรับการรันทดสอบเพื่อดูว่าคำสั่งต่างๆทำงานตามที่ออกแบบไว้ ทั้งในแง่ของระยะเวลาการตอบสนองต่ออินพุต (timing failure) และอัตราการกินพลังงานของคำสั่งทดสอบรูปแบบต่างๆ ATE ใช้เวลาไม่มาก และสามารถตรวจพบความผิดพลาดทั่วไปได้ดีทำให้เป็นการทดสอบแรก เพื่อลดการเสียเวลาและค่าใช้จ่ายในการทดสอบอื่นหลังจากนี้ System Level Test ทดสอบการใช้งานจริง System Level Test (SLT) เป็นการตรวจสอบขั้นสุดท้ายก่อนส่งมอบจริง โดยหลักการแล้วสถานีตรวจสอบคือชุดคอมพิวเตอร์จริงเรียงกันเป็นชุด เชื่อมด้วยแขนหุ่นยนต์สำหรับการโหลดชิปเข้าสถานีตรวจเพื่อให้สามารถตรวจสอบชิปจำนวนมากได้โดยอัตโนมัติ SLT เป็นเรื่องปกติของชิปจำนวนมาก อย่างไรก็ดีชิปขนาดใหญ่อย่าง MI355X หรือชิป MI รุ่นอื่นๆ มีความพิเศษคืออัตราการปล่อยความร้อนนั้นสูงมาก อาจจะถึง 1,400W การทดสอบชิปเหล่านี้ก็จะทดสอบที่การทำงานเต็มประสิทธิภาพเช่นนั้นด้วย ทำให้เครื่องทดสอบเหล่านี้ต้องมีความสามารถในการระบายความร้อนชิปทุกตัว นอกจาก SLT แล้วยังมีสถานี Active Thermal Station (ATS) สำหรับการทดสอบชิปที่อยู่ระหว่างการออกแบบ แม้จะทำงานคล้ายกับ SLT แต่เป็นการทดสอบชิปทีละตัว สามารถควบคุมพฤติกรรมเพื่อตรวจสอบระบบต่างๆ ในชิป เช่น การทดสอบหยุดระบายความร้อนเพื่อให้ชิปร้อนขึ้นเรื่อยๆ แล้วดูว่าชิปจะตัดการทำงานของตัวเองลงหรือไม่ Burn In ทดสอบอายุชิป นอกจากกระบวนการทดสอบชิปว่าทำงานได้ตามสเปคหรือไม่ AMD ระบุว่าความทนทานของชิปก็เป็นประเด็นสำคัญ เพราะชิปเหล่านี้มักทำงานในศูนย์ข้อมูลต่อเนื่องยาวนาน และหากชิปไปหยุดทำงานในศูนย์ข้อมูลจริงก็มักมีค่าใช้จ่ายในการซ่อมและเปลี่ยนชิปมากกว่าการตรวจพบความผิดปกติตั้งแต่แรกๆ มาก แนวทางการตรวจว่าชิปจะทำงานได้ต่อเนื่องหรือไม่จะอาศัยการ burn in ซึ่งเป็นการรันชิปต่อเนื่อง อาจจะรันที่สภาพแวดล้อมรุนแรงกว่าปกติ เช่นมีอุณหภูมิสูงเป็นพิเศษและดูว่ามีชิปตัวใดไม่สามารถทำงานต่อได้หรือไม่ ความพิเศษของการทดสอบนี้คือเครื่องทดสอบเป็นบอร์ดทดสอบชิปจำนวนมากที่ถูกติดตั้งเข้าเครื่องควบคุมอุณหภูมิ โดยเครื่องนี้สามารถควบคุมได้ตามโปรแกรมที่วางไว้อย่างแม่นยำ Device Analysis ของเสียแล้วต้องหาสาเหตุ ส่วนสุดท้ายของโรงงานทดสอบชิปครั้งนี้คือแผนก Device Analysis ที่รับเอาชิปที่ไม่ผ่านการทดสอบมามาวิเคราะห์หาสาเหตุอย่างละเอียด เพื่อปรับปรุงคุณภาพการผลิตไม่ให้เกิดเหตุซ้ำกันต่อไป เครื่องมือวิเคราะห์ที่ AMD โชว์ให้ดู มีสองเครื่อง เครื่องแรกคือ Acoustic Microscope เป็นการนำชิปไปแช่น้ำในบ่อ (น้ำต้องป้องกันไม่ให้มีไอออน ป้องกันการนำไฟฟ้า) จากนั้นยิงคลื่นเสียงเข้าไปเพื่อให้เห็นโครงสร้างภายใน อีกเครื่องหนึ่งคือ X-Ray แบบสามมิติที่ยิงรังสี X-Ray สแกนตัวชิปที่ความละเอียดสูงมากจนได้ภาพสามมิติในชิปที่ประกอบแล้วออกมาวิเคราะห์ ตัวอย่างชิปที่ไม่ทำงานที่ทาง AMD โชว์ให้ดูเช่น ขั้นตอนการประกบชิปเข้ากับแผ่น interposer มีขาหนึ่งบิดเบี้ยวไประหว่างการผลิต เครื่องสแกนนี้ก็สามารถแสดงภาพให้เห็นอย่างชัดเจน ระหว่างการเยี่ยมชมโรงงานผมเห็นห้องแปะป้ายไว้ว่าเป็นห้องวิเคราะห์ชิปที่ได้รับกลับมาจากลูกค้าด้วย แสดงให้เห็นว่าการวิเคราะห์ความเสียหายต่อเนื่องไปจนถึงหลังจากใช้งานจริงไปแล้ว แม้โรงงาน AMD Chai Chee ไม่ใช่โรงงาน FAB แต่กระบวนการทดสอบเองก็ใช้วิศวกรจำนวนมาก ทีมงานต้องออกแบบบอร์ดทดสอบชิปสำหรับชิปรุ่นต่างๆ ในโรงงานเพื่อใช้ในสายการผลิต โดยระหว่างการบรรยาย นอกจากนี้ทีมงาน AMD ในสิงคโปร์ยังมีงานส่วนการออกแบบและการวางแผนการผลิตชิปรุ่นต่างๆ อีกหลายรุ่น การที่โรงงานตั้งอยู่ในสิงคโปร์ก็ทำให้นักศึกษามีโอกาสฝึกงานเกี่ยวกับเซมิคอนดักเตอร์มากขึ้น โดย ตำแหน่งฝึกงานในสิงคโปร์ มีทั้งงานด้านสายการผลิต (ทดสอบชิป) และการออกแบบชิป ที่มา - การเยี่ยมชมโรงงาน AMD Chai Chee ในงาน AMD Instinct & ROCm Workshop 2026 lew Thu, 30/04/2026 - 08:23

Go to News Site